標準行程測試探針:始終如一地證明是可靠的ICT/FCT測試探針。根據測試夾具的工作行程或待測試的部件/測試點(diǎn),需要各種安裝高度。這些可以通過(guò)選擇測試探針和容器的組合來(lái)實(shí)現。因此,可以實(shí)現具有標稱(chēng)彈簧力的最合適工作行程。測試探針有標準的L(+ 2.0 mm)和E(+ 5.0 mm)版本,以及具有不同套環(huán)高度的插座。
長(cháng)行程測試探針:用于雙級測試夾具中的ICT/FCT組合測試。
無(wú)線(xiàn)插座:用于通過(guò)傳輸PCB上的彈簧柱塞傳輸信號。因此,不需要電纜。
短/強大的測試探針:由于其堅固,緊湊的設計而脫穎而出。這使得它們適用于可用空間有限的苛刻ICT/FCT應用,以及更大的網(wǎng)格尺寸。
在線(xiàn)測試(ICT)期間,測量PCB上的所有組件。在這樣做時(shí),檢測到有缺陷的部件并且可以相應地更換。功能測試(FCT)檢查PCB的整個(gè)預期功能。根據預期的使用區域,復制環(huán)境并檢查PCB的電性能。為了很好地滿(mǎn)足接觸要求,可以使用各種測試探針。它們在安裝高度,網(wǎng)格尺寸(探針之間可能的距離),樣式和連接類(lèi)型方面有所不同。電氣連接可通過(guò)焊杯或繞線(xiàn),帶或不帶電纜(無(wú)線(xiàn))來(lái)實(shí)現。
工作行程:4.4 mm(.173)
最大行程:6,35 mm(.250)
在工作行程上的彈簧力:2,0 N(7.2oz)
替代方案:1,2 N(4.3oz); 3,0 N(10.8 oz)
額定電流:5 - 8 A
Ri典型:<20 mW
柱塞:BeCu或鋼,鍍金
圓筒:鎳 - 銀或青銅,鍍金
彈簧:鋼,鍍金
插座:鎳銀,鍍金